>>254
試験はちゃんと定量的にやらないといけないので、阪大のRCNPとか東北大のCYRICとかで
中性子線をあてて試験するんや
問題はエラーの発生それ自体よりもエラーの種類とそのレート（発生率）なんでな
130nmプロセス以降は地表でも低率ながらエラーが起こることが知られてて、車載組込み用
半導体なんかだと対策もされてる
ただ、率の問題なんで、上空に上がって線量が増えるとエラーレートも増えるので、より高度
な対策が必要になる→試験増える→開発期間伸びる→コスト増えるという関係

というのが、最新チップを簡単に対策して使えない事情