「悪意の半導体」Ｉ検知　製造時に情報漏洩回路埋め込み　早大
https://headlines.yahoo.co.jp/hl?a=20170606-00000063-san-bus_all
半導体などの電子部品に組み込まれた「悪意の回路（ハードウエア・トロイ）」を検知するため、
政府と早稲田大学が人工知能を使った検知技術の開発に着手することが分かった。